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更新時間：2024-11-25簡要描述：思儀6362D光譜分析儀（簡稱：光譜儀）是一款高分辨、大動態(tài)高速高性能光譜分析儀，適用于600nm～1700nm光譜范圍的DWDM、光放大器等光系統(tǒng)測試；LED、FP-LD、DFB-LD、光收發(fā)器等光有源器件測試；光纖、光纖光柵等光無源器件測試。
思儀6362D光譜分析儀產品簡介
6362D光譜分析儀（簡稱：光譜儀）是一款高分辨、大動態(tài)高速高性能光譜分析儀，適用于600nm～1700nm光譜范圍的DWDM、光放大器等光系統(tǒng)測試；LED、FP-LD、DFB-LD、光收發(fā)器等光有源器件測試；光纖、光纖光柵等光無源器件測試。
典型應用
光芯片、FP-LD、DFB-LD、光收發(fā)模塊、光電系統(tǒng)等的光譜參數測試分析。
主要性能特點是：
1) 0.02nm最小光譜分辨率；
2) 600～1700nm光譜掃描范圍；
3) 78dB大動態(tài)范圍范圍；
4) -90dBm最高靈敏度；
5) 自由空間光輸入；
6) 內置光源輸出配置可選；
7) 強大的多應用光譜數據分析功能；
8) 12.1英寸觸控顯示、全中文操作。
思儀6362D光譜分析儀技術指標
掃描跨度 | 0.2～1100nm（全范圍跨度），0nm | |
波長精度 | ±0.02nm（1520～1620nm）、±0.04nm（1450～ 1520nm）、±0.10nm（全波長范圍） | |
波長線性度 | ±0.01nm（1520～1580nm） | |
波長重復性 | ±0.005nm（2 分鐘） | |
波長分辨率設置 | 0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1、2nm | |
最小采樣分辨率 | 0.001nm | |
采樣點數 | 101～50001、AUTO | |
功率靈敏度設置 | NORMAL、MID、HIGH1、HIGH2 和HIGH3 | |
功率靈敏度 | -90dBm（1300～1620nm）、-85dBm（1000～ 1300nm）、-60dBm（600～1000nm）（靈敏度： HIGH3） | |
最大輸入功率 | +20dBm（每通道、全波長范圍） | |
最大安全輸入功率 | +25dBm（總輸入功率） | |
功率精度 | ±0.4dB(1310/1550nm，輸入功率：-20dBm，靈 敏度：MID) | |
功率線性度 | ±0.05dB(輸入功率：-50～+10dBm) | |
功率平坦度 | ± 0.1dB(1520 ～ 1580nm ）、 ± 0.2dB(1450 ～ 1520nm、1580～1620nm） | |
偏振相關性 | ±0.05dB(1550nm）、±0.08dB(1310nm） | |
動態(tài)范圍 |
分辨率：0.02nm | 60dB(峰值±0.2nm，Typ.65dB）、 46dB(峰值±0.1nm,Typ.50dB） |
分辨率：0.05nm | 76dB(峰值±1.0nm，Typ.78dB）、 65dB(峰值±0.4nm,Typ.70dB）、 52dB(峰值±0.2nm,Typ.55dB） | |
分辨率：0.1nm | 65dB(峰值±0.4nm，Typ.68dB）、 50dB(峰值±0.2nm,Typ.55dB） | |
雜散光抑制率 | 80dB | |
光回波損耗 | 35dB（使用 APC 連接器時） | |
適用光纖 | SM(9.5/125um）、GI(50/125um、62.5、125um）、 大芯徑光纖（最大 200um） | |
光源輸出選件 | 標配校準光源、 DFB/FP 光源(標配 1550nm，其他波長可選)、 SLED 光源(波段范圍可選) 其他光源類型配件可定制 | |
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